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sandeep (2)

(印)sandeep karanth著 (1)

(印)sandeep kumar patel著 (1)

(印)桑迪普·森(sandeep sen)，(印)阿米特·库玛尔(amit kumar)著

(美)niraj jha，(美)sandeep gupta著 (1)

(美)sandeep singhal，(美)michael zyda著

(美)桑迪普 k. 戈埃尔(sandeep k. goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(krishnendu chakrabarty)主编

(美)桑迪普·乔哈(sandeep jauhar)著 (1)

(美)桑迪普·乔哈尔(sandeep jauhar)著 (1)

(美)海蒂·墨卡夫(heidi murkoff)，(美)阿琳·艾森伯格(arlene eisenberg)，(美)桑迪·哈撒韦(sandee hathaway)著

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著者: (美)海蒂·墨卡夫(Heidi Murkoff)，(美)阿琳·艾森伯格(Arlene Eisenberg)，(美)桑迪·哈撒韦(Sandee Hathaway)著

出版社: 机械工业出版社出版日期: 2007

文献类型: 图书 , 索书号: R174/206

著者: (美)桑迪普·乔哈(Sandeep Jauhar)著

著者: (美)桑迪普·乔哈尔(Sandeep Jauhar)著

(印)桑迪普·森(Sandeep Sen)，(印)阿米特·库玛尔(Amit Kumar)著

纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测订购中 (含光盘)

著者: (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编

出版社: 机械工业出版社出版日期: 2016

文献类型: 图书 , 索书号: TN432/30

著者: (印)Sandeep Karanth著

著者: (印)Sandeep Kumar Patel著

著者: (美)Niraj Jha，(美)Sandeep Gupta著

(美)Sandeep Singhal，(美)Michael Zyda著